參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 外徑偏差：測(cè)量光纖直徑波動(dòng)范圍（±0.1mm），采用多點(diǎn)采樣法評(píng)估軸向均勻性

2. 同心度誤差：檢測(cè)纖芯與包層中心偏移量（≤0.5μm）,，確保光傳輸穩(wěn)定性

3. 拉伸強(qiáng)度：驗(yàn)證抗拉性能（≥4.5GPa）,，評(píng)估材料延展性和斷裂伸長(zhǎng)率

4. 涂層厚度：控制UV固化層厚度（245±5μm），保障機(jī)械防護(hù)與柔韌性平衡

5. 表面粗糙度：分析玻璃體表面Ra值（≤0.01μm）,，降低光散射損耗

檢測(cè)范圍

1. 單模光纖預(yù)制棒：直徑80-150mm石英基材的幾何形變檢測(cè)

2. 多模漸變折射率光纖：芯層直徑50-62.5μm的折射率分布驗(yàn)證

3. 特種光纖材料：包括摻鉺光纖,、光子晶體光纖的機(jī)械性能測(cè)試

4. 聚合物涂層材料：丙烯酸酯/聚酰亞胺涂覆層的附著力與耐候性評(píng)估

5. 金屬加強(qiáng)件：不銹鋼絲/芳綸纖維的抗拉強(qiáng)度與直徑一致性檢驗(yàn)

檢測(cè)方法

1. GB/T 9771.1-2020《通信用單模光纖》第4章幾何參數(shù)測(cè)量規(guī)范

2. ASTM D3039-14 聚合物基復(fù)合材料拉伸性能標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

3. ISO/IEC 60793-1-40:2019 光纖尺寸參數(shù)測(cè)量程序（干涉法）

4. GB/T 15972.31-2021 光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第31部分：機(jī)械性能試驗(yàn)

5. IEC 60793-1-47:2017 光纖宏彎損耗測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)化流程

檢測(cè)設(shè)備

1. 激光測(cè)徑儀（Mitutoyo LSM-902S）：非接觸式外徑/同心度測(cè)量（精度±0.05μm）

2. 萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)（Instron 5967）：最大載荷50kN的拉伸/壓縮性能測(cè)試

3. 白光干涉儀（Zygo NewView9000）：表面粗糙度三維形貌分析（垂直分辨率0.1nm）

4. 電子顯微鏡（FEI Quanta 650）：涂層界面缺陷的SEM/EDS聯(lián)合分析

5. 折射率分析系統(tǒng)（York P104）：預(yù)制棒折射率分布剖面測(cè)繪

6. 光纖幾何參數(shù)測(cè)試儀（PK2600）：自動(dòng)旋轉(zhuǎn)掃描直徑/不圓度測(cè)量

7. 熱重分析儀（TA Q500）：涂層材料熱穩(wěn)定性與固化度測(cè)定

8. 光譜分析儀（Yokogawa AQ6370D）：1550nm波長(zhǎng)窗口的光損耗測(cè)試

9. 環(huán)境試驗(yàn)箱（Espec PL-3KPH）：溫度循環(huán)（-40℃~85℃）可靠性驗(yàn)證

10. X射線衍射儀（Bruker D8 Advance）：晶體結(jié)構(gòu)相變分析

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)